Contact
Downloads

reflectCONTROL voor 3D-meting en -inspectie van glanzende oppervlakken

Resolutie in het nanometerbereik

3D-sensor voor het meten en inspecteren van glanzende oppervlakken

reflectCONTROL-sensoren bieden een innovatieve oplossing voor defectdetectie op sterk reflecterende en transparante oppervlakken. Deze sensoren maken gebruik van fasemeet deflectometrie en maken meting van het volledige oppervlak mogelijk. In tegenstelling tot conventionele visuele inspectie door mensen, die veel mankracht en werktijd kost, levert de reflectCONTROL-sensor nauwkeurige meetresultaten die een gedetailleerde analyse van de oppervlaktekwaliteit mogelijk maken. Er zijn krachtige softwarepakketten verkrijgbaar voor evaluatie en parametrering, die de efficiëntie en nauwkeurigheid van de oppervlakte-inspectie significant verbeteren.

logo

Kenmerken

  1. Verbeterde cameraplaatsing voor scherpere 2D-beelden
  2. Zelfs de kleinste afwijkingen vanaf 10 nm kunnen gedetecteerd worden
  3. Uitvoer van 3D-puntenwolken voor uiterst nauwkeurige hoogtemeting
  4. 3D-gegevens rechtstreeks van de sensor met tot wel 5 miljoen gegevenspunten
  5. Resolutie in het nanometerbereik in de Z-asrichting
  6. XY-resolutie 100 µm
  7. Krachtige 3DInspect-software
[]
Contact
MICRO-EPSILON BeNeLux
Contactformulier
Uw aanvraag van: {product}
* Verplichte velden
We behandelen uw gegevens vertrouwelijk. Lees onze Privacyverklaring.

Deflectometriesensor voor 3D-metingen van glanzende oppervlakken: RCS 130-160 3D HLP

Kenmerken:

  • Meetveld 170 x 160 mm
  • Voor het meten van sterk reflecterende, vlakke oppervlakken
  • Uitvoer van 2D basisintensiteit, amplitude en gekromde beelden
  • Uitvoer van 3D-puntenwolken voor zeer nauwkeurige hoogtemetingen

De RCS130-160 3D HLP is bedoeld voor vormmetingen van glanzende objecten. Deze sensor geeft een strepenpatroon af dat door het oppervlak van het meetobject wordt gespiegeld in de sensorcamera's. De sensor levert een 3D-beeld van het oppervlak, aan de hand waarvan de topologie van de componenten (bijvoorbeeld vlakheid, afbuiging, kromming) kan worden bepaald. Het RCS130-model is speciaal geoptimaliseerd voor meet- en inspectietaken, bijvoorbeeld in productielijnen. Bovendien beschikt de sensor over een GigE Vision-interface die GenICam-compatibele gegevens levert.


Oppervlakte-inspectie van glanzende componenten: RCS 110-245 2D

Kenmerken:

  • Meetveld 110 x 245 mm
  • Voor het meten van sterk reflecterende, vlakke oppervlakken
  • Uitvoer van 2D basisintensiteit, amplitude en gekromde beelden

De reflectCONTROL RCS110-245 2D met geïntegreerde controller is ontworpen voor stationaire metingen of integratie in machines. Deze compacte sensor detecteert afwijkingen op glanzende oppervlakken, die vervolgens door software worden verwerkt en weergegeven als reflecties en gekromde beelden. GigE Vision maakt het mogelijk om oppervlaktebeelden te verzenden naar een brede reeks beeldverwerkingssoftwarepakketten voor verdere analyse.

Uiteraard zijn alle functionaliteiten van de RCS110-245 2D ook opgenomen in de reflectCONTROL RCS130-160 3D HLP. Beide sensoren bieden daarom krachtige oplossingen voor oppervlakte-inspectie en maken een naadloze integratie in bestaande systemen mogelijk.

Valid3D – betrouwbare 3D-gegevens

Software-integratie via Micro-Epsilon’s 3D-SDK

reflectCONTROL is uitgerust met een eenvoudig te integreren SDK (Software Development Kit). De SDK is gebaseerd op de industriestandaards GigE Vision en GenICam en omvat de volgende functieblokken:

  • Netwerkconfiguratie en sensoraansluiting
  • Uitgebreide sensorbesturing
  • Aansturing van beeldoverdracht
  • Beheer van door de gebruiker gedefinieerde parametersets
  • C++ voorbeeldprogramma's en documentatie

Toegang tot de sensor via GigE Vision is ook mogelijk zonder SDK indien u over GenICam-client beschikt.

Interface en signaalverwerkingseenheden

Toepassing

Tutorials