3D-sensoren voor de inspectie van geometrie, vormen en oppervlakken van matte objecten
surfaceCONTROL 3D-sensoren worden gebruikt voor 3D-geometriemetingen en oppervlakte-inspecties. De sensoren maken gebruik van het interferentiepatroon-projectieprincipe om diffuus reflecterende oppervlakken te detecteren en een 3D-puntenwolk te genereren. Deze puntenwolk wordt vervolgens geëvalueerd om geometrie, extreem kleine defecten en onderbrekingen op het oppervlak te herkennen. De 3D-snapshot-sensoren zijn verkrijgbaar met verschillende meetoppervlakken. Dit maakt inspectie van de fijnste structuren op componenten en vormafwijkingen op grote oppervlakken mogelijk. Er zijn krachtige softwarepakketten beschikbaar voor evaluatie en parameterinstelling.
Modellen
Kenmerken
- Echte 3D inline meting
- Automatische optische inspectie van geometrie, vorm en oppervlakken
- Hoogste nauwkeurigheid vanaf 0,25 µm
- Snelle en nauwkeurige detectie van een brede reeks vormfouten direct in de productielijn
- Objectieve evaluatie van afwijkingen
- Uitgebreide SDK en evaluatiesoftware
- Eenvoudige integratie in alle gangbare 3D-beeldverwerkingspakketten

Software-integratie via Micro-Epsilon’s 3D-SDK
De surfaceCONTROL-sensoren zijn uitgerust met een eenvoudig te integreren SDK (Software Development Kit). De SDK is gebaseerd op de industriestandaards GigE Vision en GenICam en omvat de volgende functieblokken:
- Netwerkconfiguratie en sensoraansluiting
- Uitgebreide sensorbesturing
- Controle over de overdracht van meetgegevens (3D-gegevens, videobeelden, ...)
- Beheer van door de gebruiker gedefinieerde parametersets
- C/ C++/ C# bibliotheek, voorbeeldprogramma's en documentatie
Toegang tot de sensor via GigE Vision is ook mogelijk zonder SDK indien u over GenICam-compatibele software beschikt.




































































































































