Integratie in applicatiesoftware
De scanCONTROL-sensoren registreren voor elke meting een profiel van individuele gekalibreerde punten. Deze profielen kunnen afzonderlijk of gecombineerd in een containerset worden gebruikt en als array of matrix naar uw eigen applicaties worden overgedragen. Naast de gegevensoverdracht van individuele meetpunten en hun aanvullende informatie (bijv. intensiteit, tellerstand), kan de volledige configuratie van de sensor ook vanuit de eigen applicatiesoftware worden aangestuurd.
Micro-Epsilon biedt verschillende tools om toegang te verkrijgen tot de functies voor configuratie en gegevensoverdracht:
De scanCONTROL Developer Tool is ontworpen om ontwikkelaars te helpen de scanCONTROL-sensoren te integreren in hun eigen applicatie op basis van de scanCONTROL SDK (LLT.DLL):
- Compleet integratievoorbeeld met broncode
- Mouse-over functie voor de scannerparameters toont de bijbehorende DLL-functie
- Lees- en schrijftoegang tot de sensorregisters
- Visualisatie van alle beschikbare transmissiemodi voor scannergegevens
De C/C++-bibliotheek voor scanCONTROL ondersteunt zowel statisch als dynamisch laden. Zowel stdcall als cdecl worden als aanroepconventies ondersteund. De afzonderlijke functies van de bibliotheek worden duidelijk gedocumenteerd in de interfacebeschrijving en uitgelegd aan de hand van voorbeelden.
Het integratiepakket voor de scanCONTROL SDK bevat:
- LLT.DLL-bibliotheekbestand
- Documentatie voor interfaces en scanCONTROL
- Interface voor C#, Python en VB .NET
- Talrijke programmeervoorbeelden voor C++ en C# (bijv. trigger- en containermodus)
De integratie in Linux wordt uitgevoerd met behulp vaneen open source C-bibliotheek die is uitgebreid met enkele belangrijke besturingsfuncties voor scanCONTROL. Een extra C++-bibliotheek maakt snelle integratie van de volledige functionaliteit in een gebruiksvriendelijke API mogelijk.
Deze bibliotheek is gebaseerd op de GeniCam-standaard, waardoor de sensor kan worden aangestuurd via GeniCam-opdrachten of rechtstreeks via de in de documentatie vermelde besturingsparameters. Voor integratieondersteuning (bijv. trigger, containermodus) zijn ook enkele voorbeeldprogramma's beschikbaar. Gebruik op ARM embedded pc's (bijv. Raspberry Pi) is mogelijk met beperkingen.
De scanCONTROL-instrumentdriver LabVIEW ondersteunt snelle integratie van scanCONTROL-sensoren in National Instruments LabVIEW. Om toegang te krijgen tot een scanCONTROL-sensor en de basisinstellingen ervan, kunnen gebruikers modules rechtstreeks vanuit het functiepalet naar hun VI's slepen. Voorbeeld-VI's die de scanCONTROL-integratie illustreren, maken ook deel uit van dit pakket.
De integratie van scanCONTROL-sensoren in de LabVIEW-omgeving is gebaseerd op de C/C++-bibliotheek (LLT.DLL) van Micro-Epsilon. Gedetailleerde documentatie laat ook zien hoe u aanvullende speciale sensorparameters kunt instellen.
De scanCONTROL-instrumentdriver voor LabVIEW:
- Ontwikkeld volgens de LabVIEW-instrumentdriverrichtlijnen van National Instruments
- LabVIEW 2012 en hoger ondersteund
- Bevat instrumentdrivers voor 32-bits en 64-bits
- Snelle en eenvoudige toegang tot alle instellingen via het functiepalet
- Ethernet-interface ondersteund
- Voorbeeld-VI's
- Gedetailleerde documentatie
Elke scanCONTROL-sensor voldoet aan de GigE Vision-standaard (Gigabit Ethernet voor Machine Vision) van de AIA (Automated Imaging Association).
Deze standaard wordt veel gebruikt in de beeldverwerkingsindustrie en wordt daarom ondersteund door alle conventionele computer-visualisatietools. Dit zorgt voor een snelle en soepele integratie in verschillende beeldverwerkingssoftwarepakketten, ook voor 3D-evaluatie.
GigE Vision garandeert een optimale gegevensbeveiliging, perfecte prestaties en korte ontwerptijden tijdens de implementatie. GigE Vision is gebaseerd op Gigabit Ethernet en biedt een maximale gegevensoverdrachtssnelheid. Ethernet-technologie biedt voordelen zoals lange kabellengtes zonder repeaters/hubs en maakt het gebruik van voordelige netwerkcomponenten mogelijk. De GigE Vision-standaard biedt een open framework voor gegevensoverdracht (bijv. profielen, datasets) en besturingssignalen tussen de laserscanner en een pc. De infrastructuurtopologie biedt talloze mogelijkheden voor toepassingen met één of meerdere scanners.
De nieuwe scanCONTROL AIK-adapter biedt snelle integratie in Cognex VisionPro via de Cognex AIK-server. Hij combineert de voordelen van de Cognex VisionPro-omgeving om snelle en betrouwbare applicaties te genereren met de voordelen van native scanCONTROL-integratie.
De AIK-adapter kan worden gebruikt om Cognex Range Images te genereren uit de meetpunten van scanCONTROL en deze vervolgens comfortabel te verwerken met de Vision Pro-algoritmen. Bovendien zijn alle bekende configuratieopties van de scanCONTROL-sensoren beschikbaar.
Voor een snelle start bevat de scanCONTROL AIK-adapter uitgebreide documentatie voor alle sensorinstellingen en de vereiste configuratiestappen in Cognex Vision Pro.
