Witlicht-interferometer voor betrouwbare diktemeting met sub-micronnauwkeurigheid
De nieuwe IMS5200-TH witlicht-interferometer opent nieuwe mogelijkheden voor snelle en betrouwbare diktemetingen. De controller beschikt over intelligente evaluatie en maakt nauwkeurige diktemetingen mogelijk van transparante lagen tot 1 µm. Vanwege de hoge meetfrequentie tot 24 kHz zijn de IMS5200-modellen ideaal voor industrieel gebruik. Nanometernauwkeurigheid voor lagen tot 1 µm.
Kenmerken
- Meetfrequentie tot 24 kHz voor snelle, stabiele metingen
- Eenvoudige integratie dankzij groot werkbereik
- Nauwkeurige laagdiktemeting: 1 µm tot 100 µm
- Multi-piek: meerlaags meting tot 5 lagen mogelijk
- Industrie-geoptimaliseerde sensor met robuuste metalen behuizing
- Geschikt voor gebruik in vacuüm
- Eenvoudige configuratie via webinterface
Betrouwbare diktemeting bij variërende meetafstanden
De IMS5200-TH witlicht-interferometer wordt gebruikt voor zeer nauwkeurige diktemetingen. Een doorslaggevend voordeel hierbij is de afstandsonafhankelijke meting, waarbij zelfs bij bewegende objecten een nanometernauwkeurige diktewaarde wordt bereikt. Het meetbereik van 1 tot 100 µm maakt het meten van dunne transparante lagen en films mogelijk.
Meerlaags diktemeting
Met de multi-piek controller-variant kunnen meerdere signaalpieken tegelijkertijd worden geëvalueerd. Dit maakt meerlaags diktemeting van transparante objecten en gelaagd glas mogelijk. De controller geeft de diktewaarden met de hoogste stabiliteit weer, ongeacht hun positie.
Ideaal voor industriële omgevingen
De robuuste sensor en de controller in een metalen behuizing maken het systeem ideaal voor integratie in productielijnen. Dankzij het compacte ontwerp en het grote werkbereik is de sensor eenvoudig te integreren. Hij levert stabiele meetresultaten, zelfs in trillende omgevingen. De controller kan op een DIN-rail in de schakelkast worden geïnstalleerd. Kabellengtes tot 10 m maken een ruimtelijke scheiding van sensor en controller mogelijk. De inbedrijfstelling en parametrering worden eenvoudig uitgevoerd via de webinterface en vereisen geen software-installatie.
Talrijke modellen voor veeleisende meettaken
| Model | Meetbereik / begin van het meetbereik | Lineariteit | Aantal te meten lagen | Toepassingsgebieden |
|---|---|---|---|---|
| IMS5200-TH26 | 26 mm ±2 mm / 1 µm tot 100 µm | < 1 nm | 1 laag | Snelle en betrouwbare inline-meting van dunne transparante lagen: bijvoorbeeld film- en glascoatings |
| IMS5200-TH26/VAC | ||||
| IMS5200MP-TH26 | Tot 5 lagen |